Ｘ線回折装置（リガク製）　※XRD

結晶性物質の非破壊での解析手段としては最も一般的で役に立つ装置です。
X線を結晶にあてると、結晶の格子面間隔をd、X線の波長をλとしたとき、2d sinθ = nλ （ブラッグの条件）の条件を満たすθの方向でX線は強めあい、それ以外のθではX線は打ち消しあう。これを利用して、結晶中の原子・分子配置の情報が得られます。物質の定性解析、格子定数などがわかります。本装置ではX線源としてCuのKα(λ=1.54Å)を用いています。